光學(xué)天平跟電子天平的使用方法有許多不同之處要求，那今天我們先講霽電子天平發展基礎，因?yàn)殡娮犹炱降奈覀兊墓ぷ鲗W(xué)習(xí)中使用的頻率是越來越高大部分，對(duì)于許多新進(jìn)公司的朋友來說重要工具，可能對(duì)這種產(chǎn)品還是在識(shí)知方面有點(diǎn)出入的，下面我們就來講講電子天平的使用方法更加堅強。

稱量方法常用的稱量方法有直接稱量法提供有力支撐、固定質(zhì)量稱量法和遞減稱量法，現(xiàn)分別介紹如下：

　　1.直接稱量法此法是將稱量物直接放在天平盤上直接稱量物體的質(zhì)量配套設備。例如發展成就，稱量小燒杯的質(zhì)量，容量器皿校正中稱量某容量瓶的質(zhì)量建議，重量分析實(shí)驗(yàn)中稱量某坩堝的質(zhì)量等優勢，都使用這種稱量法。

　　2.固定質(zhì)量稱量法此法又稱增量法，此法用于稱量某一固定質(zhì)量的試劑(如基準(zhǔn)物質(zhì))或試樣品率。這種稱量操作的速度很慢，適于稱量不易吸潮對外開放、在空氣中能穩(wěn)定存在的粉末狀或小顆粒(*小顆粒應(yīng)小于0.1 mg互動式宣講，以便容易調(diào)節(jié)其質(zhì)量)樣品。固定質(zhì)量稱量法如圖3所示用的舒心。注意：若不慎加入試劑超過指定質(zhì)量結構，應(yīng)先關(guān)閉升降旋鈕，然后用牛角匙取出多余試劑模式。重復(fù)上述操作效果較好，直至試劑質(zhì)量符合指定要求為止。嚴(yán)格要求時(shí)，取出的多余試劑應(yīng)棄去廣泛應用，不要放回原試劑瓶中提升。操作時(shí)不能將試劑散落于天平盤等容器以外的地方，稱好的試劑必須定量地由表面皿等容器直接轉(zhuǎn)入接受容器情況，此即所謂“定量轉(zhuǎn)移”。

　　固定質(zhì)量稱量法 　　 遞減稱量法

　　遞減稱量法又稱減量法，此法用于稱量一定質(zhì)量范圍的樣品或試劑綠色化。在稱量過程中樣品易吸水設計、易氧化或易與CO2等反應(yīng)時(shí)，可選擇此法至關重要。由于稱取試樣的質(zhì)量是由兩次稱量之差求得主動性，故也稱差減法。稱量步驟如下：從干燥器中用紙帶(或紙片)夾住稱量瓶后取出稱量瓶(注意：不要讓手指直接觸及稱瓶和瓶蓋)改進措施，用紙片夾住稱量瓶蓋柄範圍，打開瓶蓋，用牛角匙加入適量試樣(一般為稱一份試樣量的整數(shù)倍)發展的關鍵，蓋上瓶蓋。稱出稱量瓶加試樣后的準(zhǔn)確質(zhì)量。將稱量瓶從天平上取出無障礙，在接收容器的上方傾斜瓶身體系，用稱量瓶蓋輕敲瓶口上部使試樣慢慢落入容器中，瓶蓋始終不要離開接受器上方高產。當(dāng)傾出的試樣接近所需量(可從體積上估計(jì)或試重得知)時(shí)註入新的動力，一邊繼續(xù)用瓶蓋輕敲瓶口，一邊逐漸將瓶身豎直帶動產業發展，使粘附在瓶口上的試樣落回稱量瓶工藝技術，然后蓋好瓶蓋，準(zhǔn)確稱其質(zhì)量。兩次質(zhì)量之差系統，即為試樣的質(zhì)量。按上述方法連續(xù)遞減規模，可稱量多份試樣逐步顯現。有時(shí)一次很難得到合乎質(zhì)量范圍要求的試樣，可重復(fù)上述稱量操作1～2次。

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